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Equipements

publié le , mis à jour le

Elaboration de couches minces

Caractérisations structurales

  • AFM
  • Microscope
  • Microscopie électronique en transmission (MET) (au CNRT )
  • Microscopie électronique à balayage (MEB)
  • Banc de mesure de conductivité électrique
  • Rayons X : diffraction et réflectométrie
  • FTIR : absorption infrarouge (transformée de Fourier)

Caractérisation optique

  • M-Lines (mesures d’indices optiques et d’épaisseurs)
  • Raman
  • Ellipsomètre UVISEL Horiba Jobin-Yvon
  • Spectrophotomètre Perkin Elmer lambda 1050 with URA and 150mm avec sphère intégrante
  • Banc de photoluminescence avec laser Argon CW (Innova 90C 458,476,488 et 514nm)
  • Banc de photoluminescence avec OPO (Oscillateur paramétrique optiquer) laser pulsé nanoseconde(EKSPLA NT342B from 210 to 2500nm)
  • Banc de photoluminescence en fonction de la longueur d’onde d’excitation (lampe au xénon1kW ).